什么是HALT試驗？

HALT（Highly Accelerated Life Test）的全稱是高加速壽命試驗。HALT是一種通過施加逐級遞增的環境應力或工作載荷，來加速暴露產品的缺陷和薄弱點的試驗方法。主要應用于產品開發階段，它能以較短的時間促使產品的設計和工藝缺陷暴露出來，從而為我們做設計改進，提升產品可靠性提供依據。

HALT是Hobbs最先提出并持續進行完善，主要目的是通過增加被測物的極限值，進而增加其穩健性及可靠性。

HALT按臺階方式施加應力，能夠盡快發現產品缺陷、工作極限及破壞極限。其加于產品的應力有振動、高低溫、溫度循環、電力開關循環、電壓邊際及頻率邊際測試等。利用該試驗可迅速找出產品設計及制造的缺陷、改善設計缺陷、增加產品可靠性并縮短其上市周期，同時還可改進設計、積累產品可靠性基礎數據，為后續的產品研發提供重要依據。

HALT 的主要測試功能如下： 

利用高環境應力將產品設計缺陷激發出來，并加以改善； 

了解產品的設計能力及失效模式； 

作為高應力篩選及稽核規格制定的參考； 

快速找出產品制造過程的瑕疵； 

增加產品的可靠性，減少維修成本； 

建立產品設計能力數據庫，為研發提供依據并可縮短設計制造周期。

HALT應用于產品的研發階段，能夠及早發現產品可靠性的薄弱環節。其所施加的應力要遠遠高于產品在正常運輸、貯藏、使用時的應力。

HALT包含的如下內容：  

1） 逐步施加應力直到產品失效或出現故障； 

2）  采取臨時措施，修正產品的失效或故障； 

3） 繼續逐步施加應力直到產品再次失效或出現故障，并再次加以修正； 

4）  重復以上應力-失效-修正的步驟；找出產品的基本操作界限和基本破壞界限。

什么是HASS試驗？

HASS （High Accelerated StressScreen）的全稱是高加速應力篩選試驗。HASS是產品通過HALT得出工作極限或破壞極限值后在生產階段所做的高加速應力篩選，一般要求100％的產品參加篩選。

HASS目的是為了減少產品的潛在缺陷，并盡量在產品出廠前消除這些缺陷。HASS主要是通過加速應力方式以期在短時間內找到有缺陷的產品,縮短產品改進周期。

HASS應用于產品的生產階段，以確保所有在HALT中找到的改進措施能夠得已實施。HASS還能夠確保不會由于生產工藝和元器件的改動而引入新的缺陷。

HASS包含如下內容：  

1） 進行預篩選，剔除可能發展為明顯缺陷的隱性缺陷； 

2） 進行探測篩選，找出明顯缺陷； 

3） 故障分析，改進措施。

HASS 和 HALT 的區別：

1、階段不一樣：HALT是開發階段，HASS是生產早期階段，或者是生產階段。

2、目的不同：HALT試驗是一種摸底試驗，目的是發現設計的短板并改進，HASS是一種通過性試驗，是量產質量控制。

3、強度不一樣：HALT試驗可能會造成產品的損傷，而HASS試驗不應該造成產品的損傷，因為HASS試驗之后，產品是需要進行售賣的。而HALT試驗之后的產品是嚴禁再出貨的。

4、試驗方法不同：HALT試驗是加速應力，直至產品失效；HASS試驗是多次重復但是無產品磨損，逐步修正，完成試驗的輪廓的過程。

5、HALT試驗和HASS試驗對失效率優化，處于器件生命周期的不同階段。

高加速應力篩選試驗用 途：

主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。 PCT主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體。

高加速應力篩選試驗技術規格：